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采用化学气相沉积法制备Bi_2(Se_(0.53)Te_(0.47))_3纳米线，利用扫描电子显微镜和X射线能谱仪对其进行表征，并研究样品的圆偏振光致电流效应(circular photogalvanic effect, CPGE).利用1 064 nm激光激发，分别测试激光入射面垂直于纳米线和平行于纳米线时的CPGE电流.实验结果表明，测得的CPGE电流主要来自纳米线的拓扑表面态.激光垂直入射纳米线时的CPGE电流不为0,说明CPGE电流来源于纳米线能带的六角翘曲效应.本研究测得的Bi_2(Se_(0.53)Te_(0.47))_3纳米线的CPGE电流比文献报导的Bi_2(Te_(0.23)Se_(0.77))_3纳米线增大2倍以上，这是因为Te组分的增加不但使得费米能级更加靠近狄拉克点，还降低了纳米线中载流子复合的概率，二者共同作用，使得CPGE电流增大.
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福州大学学报(自然科学版)
ISSN： 1000-2243
CN： 35-1337/N
Year： 2024
Issue： 01
Volume： 52
Page： 14-19
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