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刘雪华 (刘雪华.) [1] | 唐电 (唐电.) [2] (Scholars:唐电)

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CQVIP PKU CSCD

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锡基无铅焊料和Cu基材界面间容易形成Cu<,6>Sn<,5>、Cu<,3>Sn及其他金属间化合物(IMC),而IMC将剧烈地影响焊接接头的性能,故对其的研究有助于了解IMC形成的本质,从而控制其形成和长大,以改善接头性能.综述了近期的研究结果,指出Cu<,6>Sn<,5>易形成扇贝状,而Cu<,3>Sn常常为薄层状;其形成过程在固-固界面和固-液(焊料)界面上具有不同特点.热力学分析指出,IMC形成受扩散控制,不同的合金元素可改变IMc的形成驱动力△G,对其形成和生长有不同的影响.无铅焊料与传统Pb-Sn焊料相比,更易产生IMC,也更易导致接头早期失效.

Keyword:

Sn基无铅焊料 可靠性 综述 金属间化合物

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  • [ 1 ] [刘雪华]福州大学
  • [ 2 ] [唐电]福州大学

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Source :

电子元件与材料

ISSN: 1001-2028

CN: 51-1241/TN

Year: 2011

Issue: 5

Volume: 30

Page: 72-76

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