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刘雪华 (刘雪华.) [1] | 唐电 (唐电.) [2]

Indexed by:

CQVIP PKU CSCD

Abstract:

锡基无铅焊料和Cu基材界面间容易形成Cu6Sn5、Cu3Sn及其他金属间化合物(IMC),而IMC将剧烈地影响焊接接头的性能,故对其的研究有助于了解IMC形成的本质,从而控制其形成和长大,以改善接头性能。综述了近期的研究结果,指出Cu6Sn5易形成扇贝状,而Cu3Sn常常为薄层状;其形成过程在固–固界面和固–液(焊料)界面上具有不同特点。热力学分析指出,IMC形成受扩散控制,不同的合金元素可改变IMC的形成驱动力△ G,对其形成和生长有不同的影响。无铅焊料与传统Pb-Sn焊料相比,更易产生IMC,也更易导致接头早期失效。

Keyword:

Sn基无铅焊料 可靠性 综述 金属间化合物

Community:

  • [ 1 ] 福州大学材料研究所,福建福州350000
  • [ 2 ] 福建工程学院材料科学与工程系,福建福州350000

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Source :

电子元件与材料

ISSN: 1001-2028

Year: 2011

Issue: 5

Volume: 30

Page: 72-76

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