基质辅助激光解吸/离子化质谱成像(MALDI-MSI)作为一种用于分析空间分子(m/z＞　1000　Da)的创新技术正在迅速成熟。[1]然而,由于电离抑制和严重的基质背景干扰,使用基于传统有机基质的MALDI-MSI直接鉴定低分子量化合物(m/z　＜500　Da)仍然是一个巨大的挑战。[2]表面辅助激光解吸离子化质谱成像(SALDI-MSI)[3]使用起到能量转移作用的纳米材料,在低分子量区间不会产生背景干扰峰,可以将分析对象由大分子扩展到小分子,并且具有信噪比高、耐盐性好、信号重现性好及可实现定量分析等优点。在此,本文开发了基于N,S-掺杂的碳量子点的表面辅助激光解吸/离子化质谱成像(SAL...