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设计了一套半导体制冷元器件性能参数测试装置,利用该装置通过实验测得型号TEC1-12706半导体制冷元器件的制冷量和散热量,并结合实验数据与理论计算推导出半导体元器件冷热端温度及相关性能参数。实验结果表明,该装置可测试出半导体制冷元器件在不同温度下的电阻R、塞贝克系数α、导热系数κ和优质系数Z等性能参数;同时,对测试结果的准确性进行了分析,指出实验测试的不足,并对测试数据进行了修正,修正结果显示了半导体性能参数与平均温度之间的关系。该装置对半导体制冷元器件性能参数测试结果数量级与相关文献测试结果一致,具有一定的准确性,能够为半导体性能参数测试研究提供参考。
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热科学与技术
Year： 2021
Issue： 06
Volume： 20
Page： 521-527
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