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author:

陈浩 (陈浩.) [1] | 周海芳 (周海芳.) [2] | 赖云锋 (赖云锋.) [3]

Indexed by:

PKU

Abstract:

采用磁控溅射和金属剥离工艺制备结构为P-Si/HfO2/Ti和P-Si/HfO2/Al2O3/Ti的阻变存储器,两器件均表现出双极性电阻转变特性.插入的Al2O3 层使得高阻态导电机制从空间电荷限制电流导电向肖特基发射控制导电转变,器件高低阻态阻值比从约61倍提高到约2.15×108 倍.通过限制set电流的方式实现多值存储,器件的4个阻态都能够非常稳定地在85℃高温下保持104 s,有利于多值存储的实际应用.

Keyword:

双介质层 多值存储 开关比 氧化铝 氧化铪 阻变存储器

Community:

  • [ 1 ] [陈浩]福州大学
  • [ 2 ] [赖云锋]福州大学物理与信息工程学院,福建福州 350108;中国福建光电信息科学与技术创新实验室,福建福州 350108
  • [ 3 ] [周海芳]福州大学

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Source :

福州大学学报(自然科学版)

ISSN: 1000-2243

CN: 35-1337/N

Year: 2022

Issue: 5

Volume: 50

Page: 621-626

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