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[期刊论文]

铜纳米颗粒对氧化铪/氧化锌双介质层阻变特性的影响

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陈帅 (陈帅.) [1] | 周海芳 (周海芳.) [2] (Scholars:周海芳) | 赖云锋 (赖云锋.) [3] (Scholars:赖云锋)

Indexed by:

CQVIP PKU

Abstract:

通过微电子加工工艺制备了具有Ti/HfOx:Cu NPs/ZnO/ITO结构的阻变存储器,研究铜纳米颗粒对器件阻变性能的影响.研究表明,铜纳米颗粒不仅使器件操作电压减小、 并且更加均一,而且增大了器件高低阻态的电阻值比(开关比),高、 低阻态电阻值更加稳定,表现出优异的耐擦写特性.纳米颗粒的引入还使低阻态的导电由普尔-法兰克发射机制主导转变为欧姆导电细丝主导.进一步研究发现,纳米颗粒增强了局部电场,不仅保证了较小电压下可产生更多的氧空位,还限定了导电细丝的位置.此外,铜纳米颗粒有利于降低器件操作电压并提高其均一性,有助于提高阻态电阻值的稳定性.

Keyword:

均一性 开关比 氧化铪基 纳米颗粒 阻变存储器

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  • [ 1 ] [陈帅]福州大学
  • [ 2 ] [周海芳]福州大学
  • [ 3 ] [赖云锋]福州大学

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Source :

福州大学学报(自然科学版)

ISSN: 1000-2243

CN: 35-1337/N

Year: 2019

Issue: 4

Volume: 47

Page: 472-476

Cited Count:

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30 Days PV: 0

Online/Total:105/10118114
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