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许志红 (许志红.) [1] (Scholars:许志红) | 苏晶晶 (苏晶晶.) [2] | 金闪 (金闪.) [3]

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incoPat

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本发明涉及一种基于并联金属性接触电弧故障的AFDD测试系统,包括切割电缆试验装置、AFDD测试装置和上位机测控分析平台;AFDD测试装置包括一MCU控制单元、第一隔离控制模块、第二隔离控制模块、AFDD测试模块和脱扣检测模块,MCU控制单元经第一隔离控制模块与AFDD测试模块电连;MCU控制单元经第二隔离控制模块与切割电缆试验装置电连,切割电缆试验装置的第一试验电缆和第二试验电缆经一电压传感器和电流传感器与AFDD测试模块电连,切割电缆试验装置旁侧还设有弧光传感器,弧光传感器、电流传感器和电压传感器分别将采集的电弧弧光、电弧电流和电弧电压信号经一信号调理模块、数据采集模块输入至上位机测控分析平台,实现电弧的电气特性研究,测试效率高。

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Patent Info :

Type: 发明授权

Patent No.: CN201610222365.8

Filing Date: 2016/4/12

Publication Date: 2018/11/27

Pub. No.: CN105866719B

公开国别: CN

Applicants: 福州大学

Legal Status: 授权

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Chinese Cited Count:

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