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[期刊论文]

TiO2薄膜元件阻变机理的模拟研究

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author:

邢昕 (邢昕.) [1] | 周白杨 (周白杨.) [2] | 陈志坚 (陈志坚.) [3] | Unfold

Indexed by:

CQVIP

Abstract:

基于密度泛函理论采用第一性原理对Ti8O16、Ti8O15和Ti8O14三种晶体结构进行电子结构的模拟计算。通过模拟结果的分析推断氧空位的作用:氧空位含量较少时,起捕获电子的作用;氧空位含量较多时,起构成导电细丝的作用;可得出Ti O2阻变机理受导电细丝理论和空间电流限制电荷效应控制的推论。参考模拟计算的结果,通过选择不同的反应磁控溅射镀膜工艺,控制薄膜钛氧比进而改变氧空位含量,可获得低阻态受氧空位导电细丝控制的阻变介质层。采用反应磁控溅射法制备以Ti O2薄膜为阻变层的阻变元件并研究其阻变机理,需要大量的实验以优化镀膜工艺参数,而采用计算模拟的方法探讨阻变机理则可以节约材料和时间成本。

Keyword:

O2 TI 反应磁控溅射 氧空位 阻变机理

Community:

  • [ 1 ] 福州大学材料科学与工程学院,福建福州350108

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Source :

真空

ISSN: 1002-0322

Year: 2015

Issue: 1

Volume: 52

Page: 9-12

Cited Count:

WoS CC Cited Count: 0

30 Days PV: 1

Affiliated Colleges:

Online/Total:193/10227389
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