Indexed by:
Abstract:
采用热分解法在Ti基上被覆了IrO2+ZrO2氧化物涂层.通过XRD、SEM、EDX、XPS和循环伏安法等分析了退火温度对IrO2-ZrO2二元氧化物涂层的物相、表面形貌和电容性能的影响,引用非线性方程g*(v)=A1 exp(-v/t11)+A 2exp(-v/t2)+y0计算了涂层的内外活性点.结果表明:IrO2-ZrO2涂层的临界晶化温度为340~360℃,340℃退火的涂层物相为非晶结构,360℃退火,含有晶态和非晶态2种结构组织,其离子价态为Ir3+、Ir4+以及过饱和IrO2+(x>0).电容性能随着温度的升高呈先增大后减小变化,360℃退火的电极有最大的电容值,与其“非晶态/晶态”两相共存组织结构有关.涂层中质子迁移能力比电子导电能力对电容的影响要大,扫描速度对质子迁移的影响大于对电子导电的影响.
Keyword:
Reprint 's Address:
Email:
Version:
Source :
稀有金属材料与工程
ISSN: 1002-185X
CN: 61-1154/TG
Year: 2015
Issue: 12
Volume: 44
Page: 3192-3196
0 . 2 3 6
JCR@2015
0 . 6 0 0
JCR@2023
ESI Discipline: MATERIALS SCIENCE;
ESI HC Threshold:335
JCR Journal Grade:4
Cited Count:
SCOPUS Cited Count:
ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All
WanFang Cited Count: -1
Chinese Cited Count:
30 Days PV: 0
Affiliated Colleges: