Abstract:
对开关电源高频大电流平面变压器的并联线圈结构进行了比较,指出并联PCB线圈可以很好克服厚导体交流损耗大的不足,提高高频平面变压器的载流能力,但由于并联PCB线圈并联层间特有的环流效应,线圈设计变得十分复杂.通过建立并联PCB线圈交流损耗模型,对并联层间环流的产生机理及影响因素进行了深入分析.结果表明,电流频率、原副边线圈交叉换位与组内线圈交错、PCB厚度以及绝缘层厚度等对环流/线圈交流损耗均有很大影响.分析结果和系统化实现的模型为设计提供了方法和指导.实验验证了损耗模型的正确性.
Keyword:
Reprint 's Address:
Email:
Source :
Year: 2006
Page: 75-85
Language: Chinese
Cited Count:
WoS CC Cited Count: 0
SCOPUS Cited Count:
ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All
WanFang Cited Count: -1
Chinese Cited Count:
30 Days PV: 1
Affiliated Colleges: