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间接式X射线探测器（IXD）的性能随着医学诊断、工业无损检测、安全监测以及科学研究等领域对成像要求的逐步提高而得到不断提升，进而推动了低辐射剂量、高分辨率、快速实时X射线成像探测技术的进一步发展。闪烁屏和图像传感器作为IXD的核心器件，伴随着闪烁体材料、半导体制造工艺和集成电路技术的进步得到了快速发展。为实现图像在闪烁屏和图像传感器间进行有效传输，通常采取3种耦合方式：光纤耦合、光学透镜耦合和直接耦合。本文主要介绍了闪烁屏和图像传感器的研究进展以及3种耦合方式的结构和特点，并对IXD未来发展的趋势进行了展望。
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激光与光电子学进展
ISSN： 1006-4125
CN： 31-1690/TN
Year： 2022
Issue： 07
Volume： 59
Page： 37-52
1 . 0
JCR@2022
0 . 9 0 0
JCR@2023
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