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李佐君 (李佐君.) [1] | 梁伟 (梁伟.) [2] | 钟舜聪 (钟舜聪.) [3] | 戴晨煜 (戴晨煜.) [4]

Abstract:

针对热障涂层系统裂纹的形核位置变化与扩展失效过程及其机理,提出采用内聚力单元分析热氧化物(TGO)层/陶瓷(TC)层界面裂纹的形核位置及扩展,采用扩展有限元法分析TGO层厚度、粗糙度以及TC初始裂纹对新TC、TGO裂纹形核位置及扩展的影响.结果表明:TGO/TC界面承受热循环载荷后,界面裂纹首先出现在近波峰处同时向两侧扩展;在冷却过程中,随着TGO初始厚度增加,TC裂纹的形核位置由波峰转向近波峰处而裂纹扩展长度没有明显变化,TGO裂纹形核位置不变但裂纹长度明显增加;随着TGO粗糙度的不断减小,TC裂纹形核位置由近波峰向中部转移,而裂纹扩展长度没有明显变化.当粗糙度减小到一定程度,TC裂纹被抑制.而TGO裂纹的形核位置没有变化,但裂纹扩展长度随着TGO粗糙度减小而增大;初始横向TC裂纹越长,TGO裂纹也越长.近波峰与中部的初始竖直TC裂纹能有效地抑制新的TC裂纹形核与扩展.本研究为热障涂层微裂纹失效机理提供了理论支撑.

Keyword:

Community:

  • [ 1 ] [李佐君]福州大学
  • [ 2 ] [梁伟]福州大学
  • [ 3 ] [钟舜聪]福州大学
  • [ 4 ] [戴晨煜]福州大学

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Source :

失效分析与预防

ISSN: 1673-6214

Year: 2021

Issue: 5

Volume: 16

Page: 300-308,313

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