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在密度泛函理论框架下,采用嵌入点电荷簇模型研究了NO在MgO(001)完整和缺陷表面上的吸附。研究结果表明:具有氧缺陷结构表面的催化活性较高,有利于NO键的削弱;当另一个NO分子进攻已吸附的NO分子时,NO键将进一步削弱,直致断裂,并伴有N2O产生,这与UPS和MIES实验观察到的现象一致。Mulliken布居分析指出,底物电子向NO转移,并填充到NO的π^*反键轨道上,从而导致NO键的削弱,并形成NO^-。这也是可能导致形成NO^-的原因。研究还表明,具有镁缺陷的MgO(001)表面对NO的解离没有催化活性。
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结构化学
ISSN： 0254-5861
CN： 35-1112/TQ
Year： 2004
Issue： 2
Volume： 23
Page： 192-196
0 . 7 3 4
JCR@2004
5 . 9 0 0
JCR@2023
JCR Journal Grade：3
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