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针对动态同步存储器在高速运行时出现的读写错误,设计了一种自动测试仪,允许自动改变电压,自动调整同步内存的参数,通过大量数据读写内存来确定故障芯片对哪种参数比较敏感,从而确定测试方案。
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贵州大学学报：自然科学版
ISSN： 1000-5269
Year： 2009
Issue： 6
Volume： 26
Page： 91-95
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