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介绍了一种以ARM高性能微处理器为核心,基于RS485总线的SoC产品自动化批量测试平台的设计方案。在对测试平台整体设计思路进行概述之后,介绍了其硬件组成及软件设计方法。经测试和实际运行表明,该测试平台能满足多种SoC产品的测试要求,能广泛应用于多种SoC产品的自动化批量测试中,提高生产效率,降低生产成本。
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电子器件
ISSN： 1005-9490
Year： 2012
Issue： 3
Volume： 35
Page： 309-312
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