Abstract：
本文利用样机的性能测试数据,建立了具有全局映射的神经网络软测量模型,并将该模型与遗传算法优化方法有机结合,形成基于软测量与遗传算法优化的电磁电器设计技术。该项技术不仅解决了电器动态过程数值分析的复杂性,带来的遗传算法计算工作量大的问题;而且在优化设计过程中,充分体现了产品的性能状况,为“一次性”设计奠定了技术基础。
Keyword：
Reprint 's Address：
Email：
Source ：
Year： 2002
Language： Chinese
Cited Count：
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 3
Affiliated Colleges：
