Indexed by：
Abstract：
采用 X-射线衍射 (XRD)和 X-光电子能谱 / Auger电子能谱 (XPS/ AES)方法 ,表征了部分催化剂的体相和表面物理化学性质 .结果表明 ,具有较高催化活性的催化剂 (Cu Cl或铜铬氧化物催化剂 ) ,均具有较多 +1价的铜 ;而催化剂中含有的 Cu2 + ,将影响其催化活性 ;经过氢气高压还原处理或者使用后的催化剂中金属铜的含量明显增多 ,同时活性也大为降低 .所有铜铬氧化物中的铬均为 +3价
Keyword：
Reprint 's Address：
Email：
Source ：
分子催化
Year： 2002
Issue： 04
Page： 289-292
Cited Count：
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 3
Affiliated Colleges：
