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使用DFT和DFT+U方法研究了Ca,Ba,Sm与Zr在CeO2体系中的掺杂能及其掺杂对缺陷形成能和氧离子迁移能的影响规律.计算结果表明,对未含有氧离子空位的掺杂体系,掺杂能随着掺杂离子半径的增大而增大;对含有氧离子空位的掺杂体系,掺杂能受到掺杂离子半径和价态的影响;对各种掺杂体系电子结构的研究发现,在还原CeO2,Zr和Sm掺杂的CeO2体系中,由于氧空位捕获电子使Fermi能级升高;在碱土金属掺杂的CeO2体系中,由于Ca2+和Ba2+取代高价态Ce4+而产生的负电荷恰恰与氧离子空位产生的正电荷中和,因此Fermi能级几乎没有移动;还原CeO2和Zr掺杂的CeO2体系均含有Ce3+,其新态...
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化学学报
ISSN： 0567-7351
CN： 31-1320/O6
Year： 2013
Issue： 12
Volume： 71
Page： 1668-1675
0 . 8 7 4
JCR@2013
1 . 7 0 0
JCR@2023
JCR Journal Grade：3
CAS Journal Grade：4
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