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许伟长 (许伟长.) [1] | 戴品强 (戴品强.) [2] | 郑耀东 (郑耀东.) [3]

Indexed by:

CQVIP PKU CSCD

Abstract:

采用脉冲电沉积技术制备钴含量在2.4%~59.3%范围内的镍钴合金.利用XRD与TEM技术对纳米晶镍钴合金的组织结构进行表征.结果表明:所有成分的纳米晶镍钴合金均为面心立方结构的单相固溶体,平均晶粒尺寸为11~24 nm,且平均晶粒尺寸随钴含量的增加而减小,镍钴合金镀态下TEM组织中观察到的晶粒尺寸与XRD测量结果一致;纳米晶镍钴合金抗拉强度为1 300~1 650 MPa,断裂伸长率为10.5%~14.5%,镍钴合金的抗拉强度与断裂伸长率均随钴含量的增加而提高;随着钴含量的不断增加,镍钴合金在单向拉伸过程中的应力诱发晶粒长大被逐渐抑制,提高加工硬化率,塑性失稳被延迟,从而提高塑性.

Keyword:

力学性能 变形机制 晶粒长大 纳米晶 镍钴合金

Community:

  • [ 1 ] [许伟长]福州大学
  • [ 2 ] [戴品强]福州大学
  • [ 3 ] [郑耀东]福州大学

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Source :

中国有色金属学报

ISSN: 1004-0609

CN: 43-1238/TG

Year: 2010

Issue: 1

Volume: 20

Page: 92-99

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