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针对TOFD D扫描图像缺陷提出一种新的缺陷识别方法.该方法首先采用KPCA(核主元分析算法)进行特征提取,并采用微粒群算法(pSO)自动优化核参数δ,最后用SVM分类器完成特征识别.在134幅TOFD缺陷图像中,分别采用(PCA+ SVM)、(KPCA+ SVM)和(PSO-KPCA+ SVM)三种方法进行试验,试验结果表明,所提出的方法识别正确率更高.
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福州大学学报（自然科学版）
ISSN： 1000-2243
CN： 35-1337/N
Year： 2014
Issue： 2
Volume： 42
Page： 277-281
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