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胡建明 (胡建明.) [1] | 李奕 (李奕.) [2] | 李俊篯 (李俊篯.) [3] | 章永凡 (章永凡.) [4] | 周立新 (周立新.) [5]

Indexed by:

PKU CSCD

Abstract:

采用密度泛函方法 ,以原子簇Cu14 为模拟表面 ,对氢氰酸 (HCN)和异氰酸 (HNC)在Cu( 10 0 )表面上不同吸附位的吸附情况进行了研究 .结果表明 :HCN和HNC分别通过原子N和C垂直吸附在表面上时 ,顶位是其最佳吸附位 ,且是吸附能为 18 5kJ·mol-1和 42  6kJ·mol-1的弱吸附 ,计算结果与实验相符 .C—N(HCN)键或N—C(HNC)键偏离垂直的分子轴线的吸附体系均不稳定 .顶位吸附时HCN和HNC分子的C—N键振动频率均发生蓝移 .

Keyword:

Cu(100)表面 HCN HNC 吸附 密度泛函

Community:

  • [ 1 ] 福州大学化学化工学院
  • [ 2 ] 福州大学化学化工学院 福州350002中国人民武装警察部队福州指挥学校科技教研室福州350002
  • [ 3 ] 福州350002

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Source :

化学学报

ISSN: 0567-7351

CN: 31-1320/O6

Year: 2003

Issue: 04

Page: 476-480,445

0 . 6 4 3

JCR@2003

1 . 7 0 0

JCR@2023

JCR Journal Grade:3

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