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采用密度泛函方法,以原子簇Cu14为模拟表面,对氢氰酸(HCN)和异氰酸(HNC)在Cu(100)表面上不同吸附位的吸附情况进行了研究.结果表明:HCN和HNC分别通过原子N和C垂直吸附在表面上时,顶位是其最佳吸附位,且是吸附能为18.5 kJ·mol-1和42.6 kJ·mol-1的弱吸附,计算结果与实验相符.C-N(HCN)键或N-C(HNC)键偏离垂直的分子轴线的吸附体系均不稳定.顶位吸附时HCN和HNC分子的C-N键振动频率均发生蓝移.
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化学学报
ISSN： 0567-7351
CN： 31-1320/O6
Year： 2003
Issue： 4
Volume： 61
Page： 476-480
0 . 6 4 3
JCR@2003
1 . 7 0 0
JCR@2023
ESI Discipline： CHEMISTRY;
JCR Journal Grade：3
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